基于取向纤维阵列与四探针法测量无机纤维单纤维电导率的方法及所用的测试样片

基于取向纤维阵列与四探针法测量无机纤维单纤维电导率的方法及所用的测试样片。本发明将硅片固定于旋转滚筒收集器上，采用静电纺丝在硅片上直接沉积无机纤维，获得稀疏、互不交叠、可逐根计数的取向纤维阵列，用与电导微芯片内部探针电极间距匹配的掩模在阵列两端热蒸镀形成平行集流电极，由扫描电子显微镜计数桥接于两电极间的纤维根数N，将硅片装入电导微芯片构成四探针测量结构并记录I‑V曲线，由测得的总电导除以N得到单纤维电导，再结合纤维长度和直径换算单纤维电导率。本发明能够有效剥离纤维间接触电阻及引线、探针接触电阻的影响，准确获得无机纤维的本征电导率，并可在同一框架下量化化学后处理对单纤维电导率的提升效果。