测试插座接触端清洁控制方法及装置

本申请提供了一种测试插座接触端清洁控制方法及装置，其中，该方法首先在对待测器件进行电性测试过程中，累计每个测试插座的有效压接次数，并采集每个测试插座中各引脚位的接触异常信息；在任一测试插座的有效压接次数达到测试插座对应的当前清洁触发阈值，或任一测试插座中采集到的接触异常信息满足预设接触异常条件的情况下，将测试插座确定为目标测试插座；控制清洁片压触目标测试插座的各引脚位并移离，以完成一次清洁动作；根据对目标测试插座清洁前发生异常的引脚位进行复测所获得的复测结果，更新目标测试插座的当前清洁触发阈值。可以在污染积累影响测试结果之前及时触发清洁，并避免过度清洁造成的资源浪费。