一种ATE测试板卡校准系统及方法

本发明提供一种ATE测试板卡校准系统及方法，系统包括：多块板卡，每块所述板卡包括CPU模块及校准模块；所述CPU模块接收上位机的控制信号，并将所述控制信号发送至所述校准模块；所述校准模块根据所述控制信号选择对应的被测负载通道进行校准，并将采样结果通过所述CPU模块回传至所述上位机；其中，所述校准模块包括恒温控制电路，所述恒温控制电路用于对所述校准模块内的采样单元进行恒温控制。通过在校准模块中集成恒温控制电路，对采样单元所在区域进行主动温度管控，有效消除了环境温度波动对采样精度的影响，使采样单元始终工作在稳定的温度条件下，从而提升了校准数据的一致性与可重复性。