电子系统测试流程的优化方法、装置、设备及存储介质

本发明提供电子系统测试流程的优化方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：对待检测电子系统进行测试，生成第一故障诊断树；其中，第一故障诊断树为任意一步测试生成的；当确定第一故障诊断树的结构需调整时，确定第一故障诊断树中的目标节点；其中，目标节点为第一故障诊断树中的任意一个节点；基于目标节点和启发式搜索算法，生成第二故障诊断树；基于第一故障诊断树和第二故障诊断树，生成优化后的故障诊断树。本发明可以提高测试的速度。