一种光量子芯片测试数据标准化处理方法

本发明涉及计算机数据处理技术领域，且公开了一种光量子芯片测试数据标准化处理方法；该方法，首先获取不同测试仪器产生的光量子芯片测试数据，建立时间对应关系并关联数据来源信息；根据通道用途和数据特征对测试数据进行分类和预处理，调用锁定的参考配置进行映射，并依据实际测试波长、温度和测试历时完成参考工况换算及长期漂移校正；关联保存原始数据、处理结果和质量状态，经校核后输出标准化数据，使不同芯片、测试批次及测试工位的测试结果能够进行比较、复核和追溯。