电源测试方法、装置、电子设备及存储介质

本公开提供一种电源测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及测试技术领域。该方法包括：对电源进行第一老化处理，第一老化处理包括带载老化处理和空载老化处理中的至少一种；将经过第一老化处理后的电源移入测试工位；对测试工位中的电源进行待机功耗测试。本公开实施例提供的方案，通过将电源的老化处理过程与待机功耗测试过程解耦，可以降低用于对电源进行待机功耗测试的时长，提升电源的待机功耗测试效率。