一种基于环形空间编码的数显塞尺厚度测量方法

本发明公开了一种基于环形空间编码的数显塞尺厚度测量方法，包括步骤：获取设置于环形空间编码机构中多通道光电检测阵列内各通道的透光状态信号，初始时所有塞尺片的尾部遮光翼对全部光路通道执行默认遮光，目标塞尺片组合被抽出时其遮光翼移出对应通道以产生透光状态信号；根据透光状态信号赋予各通道对应的预设标定加权系数并执行累加计算，得到等效面积占比响应值；将响应值代入预设的厚度映射关系中，解算出当前被抽出塞尺片组合的实际测量目标厚度值并数字化输出。本发明利用后期参数标定注入加权系数，将离散透光状态转化为能连续、高精度反映物理厚度的响应值，实现了硬件结构极简、抗环境干扰能力强的数字化测量。