一种基于多维特征动态解耦的抽出式开关柜触头劣化预测系统及方法

本发明涉及开关柜状态监测技术领域，公开一种基于多维特征动态解耦的抽出式开关柜触头劣化预测系统及方法。系统获取触头温度、同相参考导体温度、回路电流及工作位置，按接入周期筛选转换方向和前后电流水平匹配的可比负荷转换段，利用同相参考导体热响应校正触头热响应形成触头专属热响应。抽出并再次接入时保持持续劣化状态并暂停更新，以跨接入边界的同类响应差形成接合偏置，校正后续响应，仅在后续响应继续同向偏离时恢复持续劣化状态更新，并据此预测劣化趋势。由此可区分重新接合引起的状态突变与跨周期持续劣化，提高不同负荷和接合条件下劣化表征的可比性。