一种半导体功率放大AMAM或AMPM同步测试方法及系统

本发明提供了一种半导体功率放大AMAM或AMPM同步测试方法及系统，该方法包括S1、射频链路损耗预校准，生成链路幅度损耗查表以及链路限位偏移查表；S2、连通DUT测试通路，生成IQ测试波形；S3、IQ测试波形回放，采集测试输入IQ、测试输出IQ、供电电压以及电流；S4、计算热漂移增益以及热漂移相位差；S5、加权求和取平均得到平均增益以及平均相位偏差；S6、将上升升温周期以及下降回扫周期数据分离，分别绘制AMAM曲线以及AMPM曲线。