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案件記録

一种可提高电气互连可靠性的玻璃转接板的制备方法

発明不明
6請求項 · 1 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

孙世刚; 沈杰; 詹勇军; 杜晶

出願日

Jul 30, 2026

公開日

Oct 27, 2026

IPC分類

H10W 70/05 (2026.01)H10W 70/08 (2026.01)

本发明公开了一种可提高电气互连可靠性的玻璃转接板的制备方法,属于半导体封装的制造领域,S1,在玻璃基板的通孔位处进行皮秒激光打孔形成激光通孔,玻璃基板玻璃基板的正面记为A面,背面记为B面,皮秒激光从A面进入,激光通孔在A面的孔径为目标孔径的0.3~0.6;S2,玻璃基板在腐蚀液中腐蚀,当腐蚀至A面的孔径为目标孔径时将玻璃基板取出;S4,在玻璃基板的A面、B面及激光通孔的孔壁通过磁控溅射形成底金;S5,旋涂光刻胶、烘干、曝光、显影、电镀金属,形成金属图形化的玻璃基板;S6,干刻,去掉金属图形化的玻璃基板上未被电镀金属覆盖的底金,获得高电气互连可靠性的玻璃转接板。本发明提高了玻璃转接板的电气互连可靠性。

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