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案件記録
GRAPHIC OVERLAY FOR SAMPLE CAMERA IN X-RAY MICROSCOPE
発明審査中
§ Ⅰ
案件概要
発明者
CHANG, Hauyee; KOTWAL, Naomi; TAN, Meow
出願日
Feb 25, 2024
公開日
Jan 6, 2026
IPC分類
G01N
CPC分類
G01NG01N2223/306G01N2223/422G06FG02BG06F
外部リソース
発明者
CHANG, Hauyee; KOTWAL, Naomi; TAN, Meow
出願日
Feb 25, 2024
公開日
Jan 6, 2026
IPC分類
CPC分類
外部リソース