案件記録

METHOD AND SYSTEM FOR GUIDED PARAMETER SELECTION IN X-RAY MICROSCOPE

発明審査中

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§ Ⅰ

案件概要

出願人

Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc.

発明者

CHANG, Hauyee; KOTWAL, Naomi; HANLON, Justin; TAN, Meow; WHITE, Robin; SMYTH, Brian; KRAMPERT, Gerhard; DUTSCHKE, Anke

出願日

Feb 25, 2024

公開日

Jan 6, 2026

IPC分類

G01NG06F

CPC分類

G01NG06FG06F

外部リソース