Industrial defect detection method and related equipment
データ提供元:EPO OPS
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案件概要
出願番号
CN202310181576
発明者
HA QIAN
出願日
Feb 20, 2023
公開日
Aug 20, 2024
パテントファミリーID
92278400
IPC分類
CPC分類
The invention provides an industrial defect detection method and related equipment. Specifically, the detection method comprises the following steps: acquiring image information of a to-be-detected object; determining a to-be-detected pixel point and a corresponding standard line according to the image information; calculating the distance between the pixel point to be detected and the standard line; and according to a preset defect judgment rule and the distance, determining whether the to-be-detected object has a defect and a corresponding defect position. Therefore, automatic judgment and positioning of defects are realized, and the technical effects of efficient detection and cost saving are achieved.
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