원래 이름 기록: 杭州御渡半导体科技有限公司

本发明涉及集成电路自动化测试技术领域，揭示了一种多板卡间通讯的效率优化方法、装置及存储介质，通过配置多个探针台设备的优先级；当各所述探针台设备的优先级不同时，按照优先级顺序发送访问请求至相应的数字板卡和/或当各所述探针台设备的优先级相同时，将访问请求打包并发送至各所述数字板卡。本发明有效解决了多板卡间通信的并行抢占丢包或串行效率低下问题，显著提升了测试数据读取效率，减少了测试时间成本。

本发明提供一种加速数据运算的ATE测试方法及系统，方法包括：同时采集多个待测器件的数据，并将所述数据按照固定位宽存储为矩阵式结构，其中矩阵的每行对应一个测试周期，每行数据包含来自多个待测器件的混合数据；启动多个并行线程，每个线程负责处理一个测试周期的数据，将一个测试周期中混合在一起的多个待测器件的数据按预定规则分离到为各待测器件分别预先分配的独立内存区域；对分离后的各待测器件的数据分别执行预设算法处理；分析处理结果并生成报告。通过将多个待测器件的数据以矩阵式结构组织并引入并行线程处理机制，实现了测试数据的高效并行化处理，提高了测试效率，测试时间可缩短。