一种基于光晶格钟的微观粒子质量测量方法及系统
本发明涉及了光钟计量仪器技术领域,具体涉及了一种基于光晶格钟的微观粒子质量测量方法及系统,方法包括:基于光晶格钟平台,形成一维水平浅光晶格束缚待测微观粒子。先对待测粒子激光冷却,再装载至光晶格,通过光抽运将其制备到基态单一塞曼子能级。接着,调制一维水平浅光晶格中的一束晶格光使其周期性晃动。随后,确定不同调制幅度下待测粒子的钟跃迁谱线线宽,找出最小线宽对应的临界调制幅度。最后,依据临界调制幅度与晶格光波长,精确推断出光晶格囚禁的微观粒子的绝对质量。
APPLICANTS
원본 출원인 이름 및 가져온 특허의 원래 이름 필드를 확인합니다.
이름 기준 검색 결과이며 법적 주체의 동일성을 확인한 것이 아닙니다. 동명인·조직, 별칭 및 이전 이름을 자동 통합하지 않습니다.
원래 이름 필드 전체와 정확히 일치하는 기록입니다. 여러 출원인 또는 다른 역할의 당사자가 포함될 수 있습니다. 이름 경계와 법적 주체는 미확인이며 구두점을 분리하지 않습니다.
색인된 특허 기록 3건
특허 건수는 이 사이트에 수록된 중복 없는 특허 기록 수이며 출원인의 전체 특허 수가 아닙니다. 공동 명의 문자열은 단일 기업을 뜻하지 않습니다.
검증된 수록 기간과 마지막 가져오기 시간은 현재 제공되지 않습니다. 공개일은 가져오기 날짜가 아닙니다. 캐시로 인해 새 기록의 표시가 지연될 수 있습니다.
로컬 원본 출원인 필드에 이 전체 문자열이 포함된 기록을 검색합니다. 공동 명의나 더 긴 이름이 포함될 수 있으며 정확한 주체 검색이 아닙니다.
이 출원인 조건으로 특허 검색