이름 기준 검색 결과이며 법적 주체의 동일성을 확인한 것이 아닙니다. 동명인·조직, 별칭 및 이전 이름을 자동 통합하지 않습니다.

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색인된 특허 기록 1건

특허 건수는 이 사이트에 수록된 중복 없는 특허 기록 수이며 출원인의 전체 특허 수가 아닙니다. 공동 명의 문자열은 단일 기업을 뜻하지 않습니다.

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一种内存缓冲芯片的调试系统与方法及电子设备

本发明提出一种内存缓冲芯片的调试系统与方法及电子设备，调试子单元通过第一总线与主机通信连接，调试子单元通过第二总线与内存缓冲芯片通信链接，第一总线和第二总线未接入主机端内存缓冲芯片之间的主数据通路；主机用于向调试子单元发送调试命令；调试子单元用于执行调试命令，以完成内存缓冲芯片的相关的调试操作。通过调试子单元修改内存缓冲芯片中的状态寄存器和/或控制寄存器，在内存缓冲芯片的调试过程中，不需要修改主机BIOS中的参数，不需要重启，芯片参数调优的迭代周期从分钟级缩短至秒级，提升了调试效率。

❖成都星拓微电子科技股份有限公司请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名Oct 16, 2026§ 3/10 청구항G06F 11/362 (2025.01), G06F 13/40 (2006.01), G06F 13/42 (2006.01)