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색인된 특허 기록 1건

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计算质谱分析的定量下限的方法

公开了一种确定要在质谱仪中进行质量分析的第一分析物的最小浓度的方法，该方法包括：(i)使用质谱仪根据第一质量分析方法来对已知浓度的所述第一分析物进行质量分析，以便获得具有峰的离子信号；(ii)确定在该第一质量分析方法期间由该质谱仪检测到形成所述峰的离子数N；(iii)确定为了使该离子峰具有预选相对标准偏差而需要在该峰中检测到的离子数N；以及(iv)基于以下各项的值来确定在实现该预选相对标准偏差C的同时能够根据该第一质量分析方法来进行质量分析的该第一分析物的该最小浓度：所述已知浓度、N和N。

❖沃特世科技爱尔兰有限公司大卫·戈登; 乔安妮·伦祖利Oct 27, 2026§ 13/33 청구항H01J 49/00 (2006.01), G01N 30/72 (2006.01)