원래 이름 기록: 天津津航技术物理研究所

本申请提供一种金刚石红外窗口薄膜及其制备方法，通过在金刚石基底表面设置稀土金属氧化物薄膜，首先，通过选用折射率介于金刚石与空气之间的稀土氧化物，利用干涉相消原理将目标波段的平均透过率显著提升，高效解决了高反射损失问题。其次，该致密的氧化物薄膜在金刚石表面形成了一道物理化学屏障，有效阻隔了高温氧气与基底的直接接触，从而抑制了在700‑800℃下的氧化反应，从根本上解决了金刚石的高温氧化难题。最终，该薄膜兼具高增透、强抗氧化与优异的膜基结合力，使金刚石窗口薄膜在承受剧烈热冲击后仍能保持光学性能稳定与结构完整。

本申请提供一种噪声等效辐射照度的测试方法，包括以下步骤：获取被测红外成像装置对面源靶标成像得到的多帧目标图像数据，面源靶标具有与背景不同的温度；处理多帧所述目标图像数据，得到滤波后图像，基于滤波后图像，计算得到目标与背景之间的信噪比以及入瞳处的辐射照度差；基于信噪比和辐射照度差，计算得到中间噪声等效辐射照度；分析目标图像数据中目标与背景边缘的扩散特性，计算得到用于修正空间响应影响的弥散补偿系数；根据中间噪声等效辐射照度和弥散补偿系数，计算得到目标噪声等效辐射照度。该方法为红外成像装置NEFD参数的测试，提供了一种操作简捷、环境适应性好、测试精度高、重复性好的、高精度、高效率的全新解决方案。

本申请提供一种硫化锌光学窗口表面氧化层的分析方法，通过先获取无氧化层窗口的光谱与厚度以精确标定硫化锌基底的本征介电函数，再建立包含表面氧化层的光学物理模型，并以其有氧化层时的测试光谱为目标，通过拟合计算同时反演出表面氧化层的物理厚度与介电函数。该方法首次实现了对硫化锌光学窗口表面氧化层厚度与光学常数（折射率与消光系数）的非破坏性、同步精确测量，有效解决了高温等特殊应用环境下表面氧化层特征难以量化分析的技术难题，为准确评估窗口性能、预测其寿命及开发高效防氧化措施提供了关键数据支撑，显著推动了硫化锌光学窗口技术的可靠性与应用发展。

本申请提供一种使用FPGA计算fHog特征时的内存布局方法，包括以下步骤：在FPGA内依据fHog特征的计算流程，构建与计算流程相匹配的分层内存结构；计算流程包括图像缩放、像素梯度计算、基于Ceil的特征向量生成、特征向量降维；分层内存结构的构建包括：为图像缩放的计算流程配置基于块内存的双缓冲结构，为像素梯度计算的计算流程配置基于分布式内存的行缓存结构，为基于Ceil的特征向量生成的计算流程配置基于分布式内存的Ceil缓存结构与直方图缓存结构；为特征向量降维的计算流程配置基于块内存的特征向量存储结构，用于存储降维后的最终fHog特征向量；通过分层内存结构，在FPGA上以流水线方式并行执行fHog特征的计算流程，以解决FPGA存储资源瓶颈，最大化计算效能。