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用于在样本中定位单个粒子的装置和相关联的方法

本发明涉及一种用于在具有多个区域（31）的样本（3）中对单个粒子（2）进行定位的装置（100），该粒子能够在接收到光时发射光子，该装置包括：‑样本的载台（110）；‑光源，被设置为产生用于照射放置于载台上的样本的照射场，该照射场的强度具有时间和空间变化，使得该强度在样本的每个区域中具有与该强度在其他区域中的时间图案不同的预定时间图案；‑检测器（140），能够将粒子响应于被照射场照射而发射的光子转换成表示粒子接收到的照射场的强度的信号；‑计算机（150），被编程为基于来自检测器的信号的时间变化以及照射场的强度的时间和空间变化，来确定粒子所位于的样本区域。

❖巴黎文理研究大学; 巴黎市工业物理化学学校; 巴黎-萨克雷大学; 国立科学研究中心埃马纽埃尔·福特; 桑德里娜·莱韦克-福特; 马克西米利安·伦高尔§ 2/16 청구항G01N 15/1429 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01), G02B 27/58 (2006.01) +112

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원래 이름 기록: 巴黎文理研究大学; 巴黎市工业物理化学学校; 巴黎-萨克雷大学; 国立科学研究中心

用于在样本中定位单个粒子的装置和相关联的方法