一种改善GaN基LED底层出光效率的方法
本发明属于光电技术领域,具体涉及一种改善GaN基LED底层出光效率的方法。所述方法包括以下步骤:在衬底上采用PVD法磁控溅射AlN薄膜;在AlN薄膜表面采用MOCVD法外延一层AlGaN层,作为增反射层;继续沉积3D层,3D层采用MOCVD法通入TMGa和SiH两种气体以及载气,形成混合的Si掺杂GaN,作为3D层的主要成分;按照LED外延制程,进行外延应力释放层N‑GaN层、MQWs层、P‑GaN层的制备。与常规LED制程相比,本方法主要改进了LED的底层结构:在AlN缓冲层与LED外延层之间外延生长一层50 nm厚的AlGaN作为增反射层,同时采用Si掺杂的GaN作为3D层,以进一步提升其透过率。该结构能够有效减少衬底中光线的外溢,降低光路损耗,显著增强反射光路的出光效率,进而实现LED亮度的提升。