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색인된 특허 기록 1건

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一种基于打孔式铟片载样的高温合金粉末痕量杂质辉光放电质谱检测方法

本发明涉及高温合金粉末痕量杂质精密检测技术领域，具体涉及一种基于打孔式铟片载样的高温合金粉末痕量杂质辉光放电质谱检测方法。针对制样掉粉、铟片本底干扰及无专属曲线问题，采用打孔式铟片微孔注粉制样、双铟片空白扣除及基体匹配工作曲线联用。粉末经清洗烘干，取两片高纯铟片：一片测空白，另一片打孔注粉压实内嵌。预溅射后上机，用块状高温合金标样建立工作曲线定量，扣除空白得真实含量。本法制样稳定无溅射，空白扣除彻底，线性R²≥0.998，可测O、N、S、P、As、Sn、Pb、Bi等，检出限0.01ng/g，RSD≤5%，适用于航空增材制造粉末质检。

❖辽宁中科金材科技有限公司金鑫; 王贺楠Oct 16, 2026§ 1/8 청구항G01N 27/68 (2006.01), G01N 27/62 (2021.01), G01N 1/28 (2006.01) +125