一种多探针适配的零件纳米级误差检测方法及系统
本发明公开了一种多探针适配的零件纳米级误差检测方法及系统,涉及检测技术领域,该方法包括:获取对象零件的零件模型,并基于零件模型进行形状‑探针匹配;根据形状‑探针匹配结果,对零件模型进行分区分割,获取多个局部零件模型;根据形状‑探针匹配结果,结合多探针的探针检测精度,对多个局部零件模型进行多分辨率的模型简化,获取多个局部简化零件序列;分别以多个局部简化零件序列为检测分区,结合多探针进行对象零件的多分辨率检测,并结合多个局部简化零件序列与多分辨率检测结果进行模型构造,获取检测模型;比对检测模型与零件模型,获取对象零件的误差检测结果。本发明解决了现有技术中存在的零件检测准确性不佳的技术问题。