中国人民解放军32181部队

本发明涉及电子系统测试方法优化技术领域，尤其涉及一种电子系统测试方案优化方法、装置、设备及存储介质，本发明首先初始化每个粒子位置以及每个粒子速度；然后将每个粒子分别代入电子系统测试方案中得到电子系统测试方案的输出；接着根据电子系统测试方案的输出计算每个粒子的适应度，并对每个粒子的适应度进行迭代时机判断；最后当符合迭代时机时根据粒子速度以及粒子的适应度对每个粒子位置进行调整，并跳转至所述将每个粒子分别代入电子系统测试方案中，得到电子系统测试方案的输出的步骤；否则选择最佳适应度的粒子对应的测试方案作为最优测试方案。本方法保证了电子系统测试选取方法的全局最优性能，并可获得多个最优测点组成的测试集。

本发明提供电子系统测试流程的优化方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：对待检测电子系统进行测试，生成第一故障诊断树；其中，第一故障诊断树为任意一步测试生成的；当确定第一故障诊断树的结构需调整时，确定第一故障诊断树中的目标节点；其中，目标节点为第一故障诊断树中的任意一个节点；基于目标节点和启发式搜索算法，生成第二故障诊断树；基于第一故障诊断树和第二故障诊断树，生成优化后的故障诊断树。本发明可以提高测试的速度。