원래 이름 기록: 迪优未来科技（清远）有限公司

本发明涉及一种基于注意力机制与门控聚合特征金字塔的Micro‑LED缺陷检测方法，包括以下步骤：S1：获取Micro‑LED芯片表面图像，并进行预处理得到预处理后的图像；S2：对预处理后的图像，通过RFCBAMConv模块提取注意力增强特征得到提取的特征；S3：将提取的特征输入门控聚合特征金字塔即CAAGA‑HSFPN模块进行多尺度融合得到融合结果；S4：基于所述融合结果通过轻量化Conv3XC C3解码头实现缺陷的实时检测与分类。本发明能够有效提高Micro‑LED外观缺陷检测的精度、鲁棒性和实时性，进而提升检测效率和准确性，适应复杂生产环境下的动态变化，满足大规模生产中的自动化、高效、精确检测需求。