深圳市江波龙电子股份有限公司

本申请涉及存储控制技术领域，提供了一种设备控制方法、主机设备及存储设备，方法包括：响应对存储设备的控制指令，确定控制指令对应的目标指令数据。根据目标指令数据在预设文件中相应的目标偏移量，生成目标读取指令。通过将目标读取指令发送至存储设备，使得存储设备根据目标读取指令，确定目标逻辑地址对应的目标偏移量，及根据偏移量与指令数据之间的映射关系，确定目标偏移量对应的目标指令数据，根据目标指令数据执行控制指令对应的目标功能。通过对预设文件进行目标偏移量的读取操作，实现对存储设备的控制，能够有效减少对硬件平台和软件环境的依赖，从而使得通过自定义接口对存储设备进行控制的通用性更加广泛。

本申请涉及存储技术领域，提供了一种存储块管理方法，方法包括：多个超级块对应的坏块分布情况满足预设条件的情形下，从多个超级块中选择坏块数量大于平均坏块数量的第一超级块，及从多个超级块中选择坏块数量小于平均坏块数量的第二超级块。通过将第一超级块对应的包含坏块的第一物理子单元与第二超级块对应的未包含坏块的第二物理子单元进行交换，使得第一超级块映射到第二物理子单元及将第二超级块映射到第一物理子单元，从而可以均衡第一超级块与第二超级块对应的坏块数量，使得存储设备的数据传输速率以及读、写数据的速度均衡，有助于提高存储设备的读、写效率降低以及增加存储设备的使用寿命。

本申请提出一种数据清除方法、装置、存储设备及电子设备，数据清除方法包括：获取待执行的第一指令，第一指令用于清除存储设备中的第一数据；根据第一指令确定第一数据对应的第一索引范围；第一索引范围用于指示第一数据在存储设备中的存储位置；确定预设的队列中的多个清除指令对应的第二数据和第二索引范围；在第一索引范围满足预设条件的情况下，从多个清除指令中确定第二指令；根据第一索引范围和第二索引范围，对第二指令进行更新，得到更新后的清除指令；根据多个清除指令和更新后的清除指令执行数据清除操作。本申请涉及存储设备的数据处理技术领域，能够提升存储设备的数据清除效率。

本申请提供一种测试用例的调度方法及相关设备，该方法包括：获取多个测试用例和至少一个待测器件；分别将每个测试用例和至少一个待测器件进行匹配，得到多个目标待测器件，其中，每个测试用例均与至少一个待测器件中的一个目标待测器件匹配成功；确定多个测试用例的测试顺序；根据测试顺序控制多个目标待测器件批量执行多个测试用例。本申请能够在多个测试用例的情况下，完成对测试用例的批量调度。

本申请涉及性能测试方法及相关设备。所述方法利用目标检测模型，识别输入到所述目标检测模型的检测图像中的待测设备的屏幕画面；从所述屏幕画面中确定第一目标屏幕画面及第二目标屏幕画面，及基于所述第一目标屏幕画面及所述第二目标屏幕画面确定输入到所述目标检测模型的检测图像的图像数量；基于所述检测图像所形成视频的帧率及所述图像数量，确定所述第一目标屏幕画面转换到所述第二目标屏幕画面的转变时间。本申请能够避免由于待测设备性能波动或延迟引发待测设备在执行目标事件时所测得的运行时间出现偏差的问题，确保计时的一致性。

本申请提供一种插拔式存储设备的远程分析方法及其系统、电子设备，方法应用于第一终端，包括：响应于至少一个插拔式存储设备的插入操作，安装相应的存储设备驱动程序，并添加插入的插拔式存储设备至向第二终端展示的分享设备列表；响应于接收到连接请求，断开连接请求对应的目标存储设备相应的存储设备驱动程序，并返回连接反馈至第二终端以使第二终端创建虚拟目标存储设备驱动程序，连接请求为第二终端基于分享设备列表选中目标存储设备并申请与目标存储设备建立连接的请求；响应于接收到访问请求，读取目标存储设备的相应数据并返回相应数据至第二终端，访问请求为第二终端基于对虚拟目标存储设备驱动程序的操作而生成。

本申请公开了一种存储设备的测试方法、相关设备以及存储介质。所述存储设备的测试方法包括：获取到测试脚本；其中，测试脚本是通过将SGL数据库嵌入到测试命令中得到的；基于测试脚本通过驱动单元利用SGL数据传输模式，将测试命令传输给存储设备，以对存储设备进行测试。上述方案，能够实现对存储设备的SGL测试，规避硬件条件，从而提高SGL自动化测试的灵活性和可移植性。

本发明公开了一种存储设备的测试方法、电子设备以及存储介质，其中，存储设备的测试方法包括：测试机对存储设备进行预设测试，并实时将存储设备的状态数据存储在存储设备的预设存储区域内；响应于存储设备发生测试异常，通过测试机从存储设备的预设存储区域内获取存储设备的状态数据，以基于状态数据进行异常定位，得到存储设备的测试结果。通过上述方法，本发明能够记录存储设备在预设测试过程中所经历的状态及其变更，准确反应存储设备在发生异常时的状态以及历史状态，帮助异常回溯，能够提高异常定位效率和加快测试项目进度。

本发明公开了测试设备及其测试方法，其中，测试设备包括：温控箱、控制器以及测试平台，控制器设置于温控箱内，测试平台设置于温控箱内，测试平台包括测试板、测试座以及调温器；测试板与控制器连接，测试座的一端与测试板连接，测试座的另一端用于连接被测对象，调温器与控制器连接，且调温器与测试座贴合设置，以改变测试座上被测对象的环境温度。通过上述结构，本发明同时保障测试设备的器件稳定性以及被测对象的温测需求，提高测试设备的测试结果的准确性以及可靠性。

本申请公开了存储装置的测试方法、一体式测试设备。该方法包括：获取测试用例集；其中，测试用例集中包括不同类型的测试设备的多种测试用例；测试设备包括高低温测试设备和常温测试设备；利用测试用例集中的多种测试用例对存储装置进行测试，其中，测试类型包括版本测试、可靠性测试、环境应力测试、性能测试、掉电测试、读写测试和/或协议压力测试。通过上述方式，解决同一个测试设备测试单一所导致的一些潜在问题不容易被发现的问题。

本申请公开了电路板的制备方法以及电路板，制备方法包括：获取到待处理板材；其中，待处理板材包括相对设置的第一表面与第二表面，第一表面包括至少一个第一焊盘；第二表面包括导电网络；在第二表面对应每个第一焊盘的预设位置处形成至少一个导电连接孔；在每个导电连接孔与导电网络间形成对应的导电引线；在第二表面的导电网络上通电，以基于导电网络、导电引线以及导电连接孔对每个第一焊盘进行电镀金。本申请能够通过反向电镀的方式实现第一焊盘的电镀，从而解决电镀硬金工艺中需要在焊盘所在表面设置导电引线才能实现电镀的问题。