이름 기준 검색 결과이며 법적 주체의 동일성을 확인한 것이 아닙니다. 동명인·조직, 별칭 및 이전 이름을 자동 통합하지 않습니다.

원래 이름 필드 전체와 정확히 일치하는 기록입니다. 여러 출원인 또는 다른 역할의 당사자가 포함될 수 있습니다. 이름 경계와 법적 주체는 미확인이며 구두점을 분리하지 않습니다.

색인된 특허 기록 1건

특허 건수는 이 사이트에 수록된 중복 없는 특허 기록 수이며 출원인의 전체 특허 수가 아닙니다. 공동 명의 문자열은 단일 기업을 뜻하지 않습니다.

검증된 수록 기간과 마지막 가져오기 시간은 현재 제공되지 않습니다. 공개일은 가져오기 날짜가 아닙니다. 캐시로 인해 새 기록의 표시가 지연될 수 있습니다.

로컬 원본 출원인 필드에 이 전체 문자열이 포함된 기록을 검색합니다. 공동 명의나 더 긴 이름이 포함될 수 있으며 정확한 주체 검색이 아닙니다.

一种微波基板缺陷识别与自动分拣方法及系统

本申请公开了一种微波基板缺陷识别与自动分拣方法，包括：设置第一机位进行对微波基板的正反判别，当判断是正面时进入第二机位；设置第二机位进行正面检测与定位，识别正面缺陷，根据识别结果决定进入第三机位或移入废料槽；设置第三机位进行反面检测与模板匹配；根据检测结果决定进入第四机位或移入废料槽；设置第四机位执行微波基板放置与齐套性检测；根据检测结果确定是否完成分拣；为每个微波基板生成ID，进行数据记录、查询与追溯，保证微波基板全流程处理质量。本发明实现了微波基板的全流程处理，有助于提升产品质量一致性与生产效率，为企业带来更高的经济效益与质量管理保障。

❖南京耘瞳科技有限公司周文刚; 李大伟; 李桂东§ 2/10 청구항G01N 21/88 (2006.01), B07C 5/34 (2006.01), B07C 5/36 (2006.01) +129