内部集成电路总线的从属装置的测试方法
本发明公开一种内部集成电路总线的从属装置的测试方法,包含:(A)开始该从属装置的第一读取操作或第一写入操作,其中该第一读取操作或该第一写入操作包含传送命令、应答信号、数据、地址或控制字节到该从属装置的子操作;(B)在该子操作结束后,或是在该子操作的中间,传送开始命令或结束命令到该从属装置;(C)在步骤(B)之后,对该从属装置进行第二读取操作或第二写入操作;以及(D)在步骤(C)之后,判断该第二读取操作或该第二写入操作是否正确。
APPLICANTS
원본 출원인 이름 및 가져온 특허의 원래 이름 필드를 확인합니다.
이름 기준 검색 결과이며 법적 주체의 동일성을 확인한 것이 아닙니다. 동명인·조직, 별칭 및 이전 이름을 자동 통합하지 않습니다.
원본 XML의 개별 출원인 노드에서 추출한 이름입니다.
색인된 특허 기록 6건
특허 건수는 이 사이트에 수록된 중복 없는 특허 기록 수이며 출원인의 전체 특허 수가 아닙니다. 공동 명의 문자열은 단일 기업을 뜻하지 않습니다.
검증된 수록 기간과 마지막 가져오기 시간은 현재 제공되지 않습니다. 공개일은 가져오기 날짜가 아닙니다. 캐시로 인해 새 기록의 표시가 지연될 수 있습니다.
로컬 원본 출원인 필드에 이 전체 문자열이 포함된 기록을 검색합니다. 공동 명의나 더 긴 이름이 포함될 수 있으며 정확한 주체 검색이 아닙니다.
이 출원인 조건으로 특허 검색