东莞栢能电子科技有限公司

本发明涉及一种显卡全自动化测试的控制系统，属于显卡测试技术领域。包括双层循环运输模块、上料模块、四组独立运行的测试单元和分配调度模块，上料模块用于将待测显卡安装在测试治具上并上料至双层循环运输模块，四组测试单元用于对待测显卡的功能进行测试，双层循环运输模块用于将待测显卡从上料区至测试单元的送料流转以及将测试完成显卡从测试区至下料区的回收流转，分配调度模块与各测试单元连接，用于采集测试设备的实时状态信息并根据预设的调度算法分配测试任务，双层循环运输模块根据测试任务将测试治具输送到对应的测试单元，本发明解决了现有的显卡全自动测试过程中显卡测试产线的空间利用率和运行效率低的问题。