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기록
一种刻蚀液及硅环微流道的制备方法
발명유효
5조회수
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
何桥; 赵清云; 王文彬; 杨佐东
IPC 분류
C23F 1/40 (2006.01)
本发明属于半导体单晶硅环的表面微加工技术领域,具体涉及一种刻蚀液,按质量百分比计,包含:1%~10%碱性试剂、1%~5%促进剂、0.5%~1%表面活性剂、0.1%~0.2%稳定剂;余量为水。本发明还提供一种硅环微流道的方法,利用激光束扫描单晶硅环,使其先形成V字槽,再在上述刻蚀液内刻蚀,使V字槽转化为宽度30~40μm,深8~10μm的弧形槽,同时表面形成大小均一的5~10μm的方块状微观结构。最终得到氦气微流道侧壁笔直,表面微观均一,光滑,氦气通过时不会产生湍流,气流量均匀,还可以吸附腔体刻蚀产生的微颗粒,以确保微颗粒副产物不会释放到真空腔室空间内。