存储器测试方法及装置

本发明提供一种存储器测试方法及装置。所述方法包括下列步骤：在将多个晶粒闲置第一时间后，对晶粒进行第一阶段测试，且将未通过第一阶段测试的晶粒所对应的多个旗标设为第一逻辑电平；在将晶粒闲置第二时间后，对晶粒进行第二阶段测试，且将通过第二阶段测试且所对应的旗标被设为第一逻辑电平的晶粒作为多个疑似良品晶粒而持续闲置；以及在将疑似良品晶粒闲置第三时间后，对疑似良品晶粒进行第三阶段测试。