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晶体管制备方法

발명유효
6조회수
10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

方龑; 孙建; 顾浩

IPC 분류

H10D 30/01 (2025.01)H10P 14/692 (2026.01)

本公开提供了一种晶体管制备方法。该方法包括:制作外延层;在外延层上制作第一金属层;采用TEOS作为前驱体,使用PECVD工艺在第一金属层上制作第三氧化硅介质层。