검색으로 돌아가기
기록
一种半导体器件和掩膜版
발명유효
6조회수
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
司伟
IPC 분류
H10D 30/60 (2025.01)H10P 76/40 (2026.01)
一种半导体器件和掩膜版,该半导体器件包括:半导体衬底,所述半导体衬底中形成有由隔离结构界定的有源区,所述有源区沿第一方向延伸;栅极结构,形成在所述半导体衬底上且横跨所述有源区,所述栅极结构沿与所述第一方向相交的第二方向延伸;其中,所述有源区和所述栅极结构至少之一具有凸出主体边界的凸出部,所述凸出部至少部分位于所述有源区与所述栅极结构的交叠区域。该半导体器件能够提高有源区与栅极结构的有效交叠面积,有效抑制了器件的漏电流偏大的问题,提高器件性能。