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기록
一种STI填充方法
발명유효
10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
赵春雪; 林昭宏; 李秋茂
IPC 분류
H10W 10/17 (2026.01)H10P 14/692 (2026.01)
一种STI填充方法,包括:提供半导体衬底,半导体衬底中形成有沟槽,半导体衬底上依次形成有衬垫氧化层以及刻蚀阻挡层,沟槽表面形成有衬垫氧化层;沉积氧化硅,形成第一氧化硅层,第一氧化硅层填充沟槽并覆盖刻蚀阻挡层;对半导体衬底进行氮气退火处理;刻蚀第一氧化硅层;再次沉积氧化硅,形成第二氧化硅层,第二氧化硅层覆盖第一氧化硅层;对半导体衬底进行蒸汽退火处理。本申请提供一种STI填充方法,在第一次沉积氧化硅后先进行氮气退火处理,刻蚀后再次沉积氧化硅并进行蒸汽退火处理,能够有效减少STI过程中填充孔洞的产生,提高氧化硅膜层的致密性。