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기록
一种改善芯片翘曲及散热的2.5D封装方法
발명유효
5청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
张代刚; 沈洋; 张梦; 刘卫东
IPC 분류
H10W 72/20 (2026.01)H10W 70/60 (2026.01)H10W 74/01 (2026.01)H10W 74/10 (2026.01)H10W 74/15 (2026.01)H10W 40/22 (2026.01)
本发明提供了一种改善芯片翘曲及散热的2.5D封装方法,其能优化改善芯片的翘曲,提升散热性能,且同时采用批量倒装回流的工艺,提升良率的同时可提升生产效率,降低成本。首先将Interposer晶圆进行临时晶圆键合,上层芯片倒装回流焊接在Interposer晶圆另一侧,进行底部填充,在上层芯片背面划TIM胶,贴装散热片固化,然后进行晶圆塑封及临时晶圆解键合,在晶圆解键合一侧制备RDL层及FC‑Bump,切割成单颗芯片;之后在基板上表贴电容电阻元件,再将单颗芯片倒装回流焊接在基板上,底部填充,将多颗基板放于治具中塑封,研磨露出散热片,在基板另一侧进行植球,最后切割成单颗电路。