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기록

分析物的检测方法、系统、介质及设备

발명유효
10청구항 · 4 독립항
§ Ⅰ

개요

IPC 분류

A61B 5/1455 (2006.01)A61B 5/145 (2006.01)A61B 5/00 (2006.01)G06V 40/145 (2022.01)G06V 10/143 (2022.01)G06T 7/00 (2017.01)

本发明提供了一种分析物的检测方法、系统、介质及设备,属于光学分析领域,包括:成像步骤:通过第一波长范围内的红外光照射第一区域并对第一区域进行成像,通过第二波长范围内的紫外光照射第一区域并对第一区域进行成像;光谱获取步骤:从所述第二图像中选取检测点和参考点,得到成像区域中分析物的信息,所述分析物的信息包括分析物与光谱数据关联的信息;补偿步骤:根据检测点与参考点之间在第一图像中的灰度差,对分析物的信息进行补偿。本申请相对于仅仅通过不同区域的光谱数据进行分析的方式,检测结果更加准确。