검색으로 돌아가기
기록
基于机床探针的多模式自适应测量方法
발명유효
1조회수
10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
闫汝学; 付宝琨; 鞠永潭; 高山; 王琦轩; 梅宇; 仪浩
IPC 분류
B23Q 17/00 (2006.01)G01B 21/20 (2006.01)
本发明公开了一种基于机床探针的多模式自适应测量方法,属于数控机床精密测量技术领域,包括以下步骤:步骤1,建立机床坐标系;步骤2,确定机床探针起始位置坐标;步骤3,确定机床探针起始探测时与圆柱面轮廓之间沿径向方向的测量间隙;步骤4,确定测点数量、每个测点的测量角度,对于每一个测点,确定机床探针的起始测量位置;步骤5,机床探针依次对所有测点进行探测,获取各个测点在XOY平面上的投影坐标;步骤6,确定待测量圆周端面测量圆心在XOY平面上的投影坐标以及测量直径值,对待测量圆周端面的圆度进行评价。本发明待测量圆周端面采用四个测点或六个测点探测的方式,减少了机床探针的行进路径,提升了测量效率。