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기록
一种多模态FPC缺陷检测方法、系统、介质以及产品
발명유효
1조회수
9청구항 · 4 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
沈锦荣; 唐雄志; 光范立
IPC 분류
G01N 21/88 (2006.01)G01N 25/72 (2006.01)G01R 31/28 (2006.01)
本申请涉及缺陷检测技术领域,尤其是涉及一种多模态FPC缺陷检测方法、系统、介质以及产品,方法包括获取待检测FPC对应的光学数据、热成像数据以及电路通断数据;从光学数据中确定出待检测FPC上每个检测位置对应的表面特征参数;从热成像数据中确定出待检测FPC上每个检测位置对应的温度特征参数;从电路通断数据中确定出待检测FPC上每个检测位置对应的电路特征参数;基于待检测FPC上每个检测位置对应的表面特征参数、温度特征参数、电路特征参数以及预设参数权重,得到待检测FPC上每个检测位置对应的缺陷类型和缺陷检测分值。本申请便于提升缺陷检测精度。