一种检测银粉本征电阻率的方法

本发明提供了一种检测银粉本征电阻率的方法，属于材料检测技术领域。本发明的方法包含如下步骤：采用混合液清洗银粉，得到预处理银粉；预处理银粉进行压片成型，得到银粉样片；对银粉样片进行多次电阻测量，得到电阻值R，根据电阻值R、银粉样片截面积A和银粉样片长度L计算银粉的本征电阻率ρ。本发明通过化学清洗与高压压片相结合的标准化过程，有效消除了银粉表面有机绝缘层和颗粒间接触电阻，无需依赖浆料配方，即可评估银粉潜在导电能力，提高测量精度；操作简便、成本低廉、重现性好，适用于工业界的批量快速检测与筛选，为银浆的配方优化提供了可靠的直接依据。