一种芯片测试方法、装置、设备及介质

本申请公开了一种芯片测试方法、装置、设备及介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：在仿真平台上搭建芯片固件白盒测试平台，并通过预设标准化接口注册至少一个调试工具链；在白盒测试平台上执行测试用例，以获取基础测试日志，并在测试用例的执行过程中触发调试工具链同步采集多维度运行数据；将多源日志数据进行格式统一和时间轴对齐处理，以生成标准化时间轴数据，并基于预设关联分析算法对标准化时间轴数据进行关联分析，识别芯片固件的测试过程中的异常行为及潜在风险，并通过可视化界面展示相应的分析结果。通过本申请的技术方案，可以解决芯片测试过程中概率问题难定位，工具链割裂及协同性不足导致的问题。