一种带自校准高精度测角转台控制系统及方法

本发明公开了一种带自校准高精度测角转台控制系统及方法，该系统包括控制器MCU、编码器和驱动器，所述控制器MCU通过编码模块与编码器相连接，所述控制器MCU通过速度控制器与驱动器相连接，所述驱动器与电机相连接；所述编码器作为检测装置，检测值输入控制器MCU构成闭环结构，所述控制器MCU采用基于外接矩形法的PID控制算法计算出运动控制参数，以减少累积误差。本发明可抑制转台中存在的非线性因素干扰，提高转台的抗干扰能力和提升转台控制精度，实现对二次雷达的测角精度提升。