검색으로 돌아가기
기록
一种电子存储芯片运行故障诊断方法及系统
발명유효
1조회수
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
蒋文; 蔡梁勇; 祝厚全
IPC 분류
G06F 18/24 (2023.01)G11C 29/56 (2006.01)G06F 18/15 (2023.01)G06F 18/2131 (2023.01)G06F 18/2137 (2023.01)G06F 18/23213 (2023.01)
本发明涉及存储芯片故障诊断技术领域,公开了一种电子存储芯片运行故障诊断方法及系统。该方法包括实时采集芯片运行的电流信号序列与电压信号序列;对两类信号序列进行时域分段,得到电流分段序列和电压分段序列;从电流分段各段提取均值偏移量与波动极差,形成电流特征集合,从电压分段各段提取上升沿斜率与下降沿斜率,形成电压特征集合;依据两类特征集合元素的分布密度,划分高密度与低密度特征区域;计算两区域间特征迁移量,生成区域间差异指标;基于该指标对电流、电压分段序列动态加权融合,得到融合信号序列;对融合信号序列多尺度分解,提取高频与低频分量能量占比;根据两类能量占比的比值,诊断电子存储芯片运行故障类型。