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一种测试电路和存储器

발명유효
5조회수
13청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

IPC 분류

G11C 29/56 (2006.01)

本公开实施例提供了一种测试电路和存储器,该测试电路包括错误记录电路和测试核心电路;错误记录电路位于存储器的物理接口区域,测试核心电路位于存储器的其它区域;测试核心电路,用于存储至少一个被测地址信号;测试核心电路,还用于接收错误地址指示信号,将错误地址指示信号对应的被测地址信号输出;错误地址指示信号对应的被测地址信号为错误地址信号;错误记录电路,用于记录错误地址指示信号;错误记录电路,还用于将错误地址指示信号发送给测试核心电路。本公开实施例能够节约物理接口区域的面积,降低物理接口区域的设计难度。