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一种利用氧空位调控铁电氧化物薄膜极化取向的方法

발명유효
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§ Ⅰ

개요

발명자

聂越峰; 文宗涵; 孙浩滢; 管雨泽

IPC 분류

H10D 1/68 (2025.01)

本发明公开了一种利用氧空位调控铁电氧化物薄膜极化取向的方法,所述方法包括在1×10‑1×10Torr范围下生长铁电氧化物薄膜,引入氧空位;将生长结束的铁电氧化物薄膜在1×10‑1×10Torr氧压下进行退火处理,消除氧空位。该方法通过氧空位引入‑消除的工艺,实现对铁电薄膜面外与面内极化取向的可控转换,同时保持了薄膜的高晶体质量与优良的电学性能。本发明工艺简单、普适性强,不依赖于特定衬底,可用于制备具有定制化极化取向的高质量铁电薄膜。