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深沟槽硅电容器及其制备方法

발명유효
8조회수
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

汪大祥; 徐迪; 张雄; 李青

IPC 분류

H10D 1/68 (2025.01)

本公开提供了一种深沟槽硅电容器及其制备方法。所述制备方法包括:在硅衬底上刻蚀形成若干个深沟槽,并交替沉积介质层和电极层,形成多层堆叠结构;在多层堆叠结构上位于深沟槽一侧的预设位置处进行刻蚀,形成第一接触孔;采用第一制备工艺对第一接触孔进行制备,以使第一接触孔中处于第一相对位置的不同电极层互联;在多层堆叠结构上位于深沟槽另一侧的预设位置处进行刻蚀,形成第二接触孔;采用第二制备工艺对第二接触孔进行制备,以使第二接触孔中处于第二相对位置的不同电极层互联,得到深沟槽硅电容器。本公开可以有效增加横向介质层的面积,提升深沟槽硅电容器的集成度和容值密度,且能够有效降低制作成本和工艺难度。