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一种P型薄膜晶体管及其制备方法

발명유효
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§ Ⅰ

개요

발명자

董俊辰; 师新如; 张佳康; 赵钰迪; 李振松; 赵凯

IPC 분류

H10D 30/67 (2025.01)H10D 30/01 (2025.01)

本发明公开了一种P型薄膜晶体管及其制备方法,属于集成电路微纳电子器件领域。本发明采用锗/铝薄膜周期性交替叠层结构作为有源层,通过后退火工艺促使其结晶,从而实现P型晶体管特性。所制备的薄膜晶体管性能出色,具有实际应用潜力,工艺流程简洁、成本低廉,且可与现有氧化物晶体管平台兼容,有望实现与氧化物器件协同集成的薄膜晶体管CMOS电路,对集成电路领域的持续发展与产业升级具有重要意义。