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기록
高沟槽密度的IGBT
발명유효
14청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
贾鹏飞; 吴庆霖; 李巍; 韩天宇; 刘小菡
IPC 분류
H10D 62/10 (2025.01)H10D 12/00 (2025.01)H10D 12/01 (2025.01)H10D 64/27 (2025.01)H10D 64/23 (2025.01)
本发明提供一种高沟槽密度的IGBT。该IGBT中,多个栅极沟槽设置在基底中且在基底顶面平行伸长,栅电极填充在栅极沟槽内且沿着栅极沟槽伸长的方向伸长,多个发射极接触孔设置在基底上,每个发射极接触孔横跨多个栅极沟槽且部分嵌入栅极沟槽内,发射极接触孔的部分底面位于相邻两个栅极沟槽之间的基底表面,栅电极包括相连接的下凹部和上凸部,下凹部与发射极接触孔存在交叠,发射极金属填充多个发射极接触孔且与栅极沟槽之间的基底电连接,隔离介质层位于发射极金属与栅电极之间且覆盖栅电极的顶面。发射极接触孔与栅极沟槽相交设计,可以降低发射极接触孔的对位精度要求,有利于降低IGBT的工艺难度,提高产品良率。