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기록
SiC基板的制造方法、半导体装置的制造方法、SiC基板、及半导体装置
발명유효
2조회수
17청구항 · 4 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
大槻刚; 松原寿树; 阿部达夫
IPC 분류
C30B 29/36 (2006.01)C30B 33/02 (2006.01)C30B 33/06 (2006.01)H10P 10/00 (2026.01)H10P 14/20 (2026.01)H10P 14/60 (2026.01)H10P 14/24 (2026.01)H10P 30/00 (2026.01)
本发明是一种SiC基板的制造方法,其为SiC基板100的制造方法,其特征在于,包括:接合工序,其将使3C‑SiC层1a生长于硅基板1上而成的生长基板21的3C‑SiC层1a接合于作为支撑基板3的多晶SiC基板从而得到接合基板10;去除工序,其将硅基板1自接合基板10去除;及,热处理工序,其对去除工序后的接合基板10进一步进行热处理,并进行3C‑SiC层1a的相变,由此得到具有与热处理前不同的晶面取向的SiC层1b的SiC基板100。由此,可提供一种SiC基板的制造方法,其能兼具大口径化与各式各样多型的SiC。