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기록
半导体装置
발명유효
8조회수
9청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
丰高耕平; 八窪裕人
IPC 분류
G11C 29/00 (2006.01)G06F 11/10 (2006.01)G11C 11/00 (2006.01)G11C 11/404 (2006.01)G11C 11/412 (2006.01)G11C 29/44 (2006.01)
提供一种可靠性高的半导体装置。组合使用包括Si晶体管的锁存电路与包括OS晶体管的存储电路。包括OS晶体管的存储电路不容易发生软错误。对锁存电路的逻辑值与包括OS晶体管的存储电路的逻辑值进行比较，根据比较结果将与包括OS晶体管的存储电路的逻辑值相等的数据供应给包括Si晶体管的锁存电路。