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기록

一种硅电容器及其制备方法

발명유효
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

출원인

苏州凌存科技有限公司

발명자

陈劲中; 吴迪

IPC 분류

H10D 84/00 (2025.01)H10D 1/68 (2025.01)

本申请提供一种硅电容器及其制备方法,属于半导体领域。本申请提供的硅电容器包括:硅晶圆,包括相对设置的上表面和下表面;硅晶圆的上表面的中心区域设有多个沟槽,沟槽的开口与硅晶圆的上表面齐平;在硅晶圆的上表面无沟槽区域和沟槽内设有介电层薄膜;在介电层薄膜上表面、与中心区域对应位置处设有硅电容的上电极;在介电层薄膜上表面、与硅电容的上电极间隔第一预设距离处,设有MIM电容的上电极,硅电容和MIM电容的上表面齐平;金属线,金属线连接硅电容和MIM电容的上表面;在硅晶圆的下表面和金属线的上表面分别设有第一电极和第二电极。本申请提供的硅电容器及其制备方法,可在扩展电容器的带宽的同时降低生产成本。