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기록
半导体结构的形成方法
발명유효
1조회수
10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
程勇; 彭坤
IPC 분류
B81C 1/00 (2006.01)B81C 3/00 (2006.01)B81B 7/02 (2006.01)
一种半导体结构的形成方法,包括:提供第一衬底,包括第一基底、第二基底和位于第一基底与第二基底之间的埋氧层;在第一基底内形成第一凹槽和初始第二凹槽,第一凹槽的底部暴露出埋氧层表面,第一凹槽的深度大于初始第二凹槽的深度,第一凹槽的宽度大于初始第二凹槽的宽度;采用循环工艺去除初始第二凹槽底部的第一基底,在第一基底内形成第二凹槽,循环工艺包括:对初始第二凹槽底部的第一基底进行氧化形成氧化层;去除氧化层;提供第二衬底,第二衬底内具有空腔;将第二衬底与第一衬底键合,第二衬底与第一基底相接,空腔与第一凹槽相连通,空腔与第二凹槽相连通。所述方法提升了导体结构的良率。